Перейти к основному содержанию
В началоВ начало
Вы не вошли в систему Вход
  • Дополнительно
Русский ‎(ru)‎
Русский ‎(ru)‎ English ‎(en)‎

Методы измерений и контроля изделий печатной микроэлектроники

Путь к странице
  • В начало / ►
  • Витрина курсов / ►
  • Полиграфический институт / ►
  • ТиУКвПиУП / ►
  • 27.04.02 / ►
  • Электронные образовательные ресурсы (ЭОР) / ►
  • О курсе
  1. Витрина курсов
  2. О курсе

Контакты:

  • Баблюк Евгений Борисович
    Баблюк Евгений Борисович
    Преподаватель
  • Доронин Федор Александрович
    Доронин Федор Александрович
    Преподаватель
  • Евдокимов Андрей Григорьевич
    Евдокимов Андрей Григорьевич
    Преподаватель
  • Лазарева Ольга Викторовна
    Лазарева Ольга Викторовна
    Преподаватель
Авторизоваться

Категории курсов

Вы можете переместить блок сюда, чтобы он попал в док
Пропустить Категории курсов
Категории курсов
  • Институт новых образовательных программ и технологий
  • Абитуриенту
  • Инженерная школа (факультет)
  • Институт графики и искусства книги имени В.А. Фаворского
  • Институт издательского дела и журналистики
  • Передовая инженерная школа электротранспорта
  • Полиграфический институт
  • Транспортный факультет
  • Факультет базовых компетенций
  • Факультет информационных технологий
  • Факультет машиностроения
  • Факультет технологического предпринимательства
  • Факультет урбанистики и городского хозяйства
  • Факультет химической технологии и биотехнологии
  • Факультет экономики и управления
  • Филиалы
  • Центр проектной деятельности
  • Центр Довузовского образования и подготовки к ЕГЭ
  • В работе
  • Центр дополнительного профессионального образования
Все курсы ...
Вы не вошли в систему Вход
На базе СЭО 3KL
Сводка хранения данных
Скачать мобильное приложение